数字射线检测技术

数字射线检测技术

作者: 郑世才王晓勇

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已完结现代当代当代文学

目录 (144章)

倒序

正文

001 目录-第1章概述 002 概述-1.1 数字射线检测技术的发展概况 003 概述-1.2 数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别 004 概述-1.3 数字射线检测技术基本理论 005 概述-1.4 等价性问题 006 概述-1.5 数字射线检测技术标准 007 概述-复习题 008 目录-第2章辐射探测器与其他器件 009 .1.1 辐射探测器的类型（*）010 *2.1.2 辐射探测器的一般特性 011 .1.3 辐射探测器系统 012 辐射探测器与其他器件-2.2 辐射探测器系统的基本性能 013 辐射探测器与其他器件-2.3 分立辐射探测器（DDA）014 .3.1 非晶硅辐射探测器（*）015 .3.2 非晶硒辐射探测器 016 .3.3 CCD或CMOS辐射探测器 017 .3.4 分立辐射探测器的性能（*）018 辐射探测器与其他器件-2.4 成像板系统（IP板系统）019 .4.1 IP板（*）020 *2.4.2 IP板的主要特性 021 .4.3 IP板系统的基本性能（*）022 辐射探测器与其他器件-*2.5 图像增强器系统 023 *2.5.1 图像增强器的基本结构 024 *2.5.2 图像增强器系统的探测过程 025 *2.5.3 图像增强器系统的主要性能 026 辐射探测器与其他器件-2.6 A/D转换器 027 .7.1 像质计概述 028 .7.2 常规像质计 029 .7.3 双丝型像质计（*）030 *2.7.4 线对卡 031 辐射探测器与其他器件-复习题 032 目录-第3章数字射线检测基本理论 033 数字射线检测基本理论-3.1 数字图像概念 034 .1.1 数字图像的基本概念 035 .1.2 数字图像的空间频率 036 **3.1.3 灰度 037 *3.1.4 数字图像文件格式 038 .2.1 图像数字化过程 039 .2.2 采样定理（*）040 *3.2.3 量化位数 041 数字射线检测基本理论-3.3 数字射线检测图像质量 042 .3.1 检测图像对比度 043 .3.2 检测图像空间分辨力（*）044 .3.3 检测图像信噪比（*）045 .4.1 检测图像与细节识别的关系（*）046 .4.2 检测图像与细节分辨的关系（*）047 数字射线检测基本理论-**3.5 细节可识别性理论关系式 048 数字射线检测基本理论-复习题 049 目录-第4章数字射线检测基本技术 050 数字射线检测基本技术-4.1 概述 051 .2.1 探测器系统概述 052 .2.2 探测器系统基本空间分辨力选择 053 .2.3 规格化信噪比选择 054 .3.1 透照技术控制概述 055 .3.2 最佳放大倍数（*）056 .3.3 源到工件表面的距离（*）057 .3.4 曝光曲线（*）058 数字射线检测基本技术-4.4 图像数字化参数控制 059 .5.1 图像显示与观察条件（*）060 .5.2 图像观察识别技术 061 .5.3 缺陷识别与质量级别评定 062 .5.4 尺寸测量（*）063 **4.5.5 厚度测定 064 .6.1 检测图像质量参数控制 065 .6.2 图像质量的补偿规则（*）066 *4.7.1 技术级别设计概述 067 *4.7.2 检测图像常规像质计指标近似设计 068 *4.7.3 检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计 069 *4.7.4 例题 070 数字射线检测基本技术-4.8 数字射线检测技术稳定性控制 071 .8.1 检测工艺文件（检测程序文件）072 .8.2 检测系统性能的长期稳定性试验控制 073 .8.3 检测工艺卡编制(1)074 .8.3 检测工艺卡编制(2)075 数字射线检测基本技术-复习题 076 目录-第5章工业常用数字射线检测系统 077 工业常用数字射线检测系统-5.1 概述 078 .2.1 DR系统组成 079 .2.2 DR系统技术控制（*）080 .2.3 探测器响应校正与坏像素修正（*）081 .2.4 DR系统应用特点 082 工业常用数字射线检测系统-5.3 CR系统 083 .3.1 CR系统检测基本过程 084 .3.2 CR系统技术控制 085 .3.3 CR系统应用 086 工业常用数字射线检测系统-*5.4 图像增强器数字射线检测系统 087 工业常用数字射线检测系统-**5.5 微焦点数字射线检测系统 088 **5.6.1 扫描仪概述 089 **5.6.2 扫描仪的基本性能指标 090 **5.6.3 扫描技术 091 **5.6.4 扫描仪选用 092 工业常用数字射线检测系统-复习题 093 目录-第6章等价性问题 094 等价性问题-6.1 等价性问题概述 095 .2.1 等价技术级别评定概述 096 *6.2.2 胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析 097 *6.2.3 等价技术级别评定过程 098 *6.2.4 等价技术级别评定例题 099 等价性问题-**6.3 等价性问题的理论处理方法 100 等价性问题-复习题 101 目录-第7章实验 102 实验-实验1 DDA基本空间分辨力测定 103 实验-实验2 DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定 104 实验-实验3 DDA像素尺寸对缺陷检测的影响 105 实验-实验4 IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响 106 实验-实验5 曝光量对检测图像质量的影响 107 实验-实验6 最佳放大倍数试验 108 实验-实验7 曝光曲线制作 109 实验-实验8 图像软件使用 110 实验-实验9 DDA数字射线检测系统使用 111 实验-实验10 CR数字射线检测系统使用 112 附录-附录A 辐射探测器的基础性知识 113 A.1 辐射探测器的物理基础 114 A.2 半导体基本知识 115 A.3 构成辐射探测器的光电探测器件与材料(1)116 A.3 构成辐射探测器的光电探测器件与材料(2)117 A.4 辐射探测器的一般特性 118 A.5 半导体探测器的辐射损伤 119 B.1 采样概念 120 B.2 采样定理概念 121 B.3 采样定理讨论方法 122 B.4 采样定理确定方法 123 C.1 概述 124 C.2 对比度增强处理 125 C.3 图像锐化处理 126 C.4 图像平滑处理 127 C.5 伪彩色处理 128 附录-附录D 动态数字射线检测技术 129 D.1 检测图像不清晰度的一般考虑 130 D.2 动态检测方式几何不清晰度的考虑方法 131 D.3 动态检测方式的几何不清晰度 132 附录-附录E 射线检测技术系统的调制传递函数 133 E.1 调制传递函数 134 E.2 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度 135 E.3 矩形函数近似处理 136 E.4 指数函数近似——傅里叶变换理论处理 137 E.5 两种函数的比较 138 复习题参考答案 139 复习题参考答案 140 复习题参考答案 141 复习题参考答案 142 复习题参考答案 143 复习题参考答案 144 参考文献

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